Главная · Продукция · Оборудование для фотолитографии ·

Оборудование для контроля полупроводниковых пластин

Оборудование для проведения контрольных операций характеризуется большим многообразием: от установок визуального контроля до сложнейших автоматических и измерительных комплексов, используемых при разработке и исследования новых технологических операций и полупроводниковых приборов в микроэлектронике.

Неизбежная миниатюризация, уход в нанотехнологии заставляет применять новые инструменты для контроля технологических процессов.

В ассортименте ОАО "Планар" имеется широкая гамма контрольно-измерительного оборудования. Нами разработано оборудование для контроля геометрических параметров подложек, применяемых в технологическом процессе, контроля привносимых дефектов на пластинах с топологией и подложках без топологии, контроля критических размеров, контроля толщин технологических слоев. Основной особенностью наших КИО является бесконтактный метод контроля, что позволяет измерения и контроль проводить на рабочих пластинах, что существенно улучшает достоверность измерений.

Для получения более подробной информации по модельному ряду оборудования для контроля полупроводниковых пластин свяжитесь с нами:

Отдел маркетинга:

Телефон:	+375 17 223 71 28, +375 17 226 09 82
E-mail:	office@planar.by