Главная   Карта сайта   Контакт   Обратная связь   Полезные ссылки  
Об объединении Продукция Услуги Разработки Поддержка


Оборудование для формирования и контроля топологических структур на фотошаблонах

Прецизионные генераторы изображений

Генераторы изображений для специальных приложений

Фотоповторители

Установки автоматического контроля топологии фотошаблонов

Установки лазерного устранения дефектов фотошаблонов

Установки контроля микроразмеров и координат топологии фотошаблонов

Оборудование для формирования и контроля топологических структур на полупроводниковых пластинах

Оборудование для непосредственного генерирования изображений на полупроводниковые пластины

Оборудование для проекционного переноса изображений на полупроводниковые пластины

Оборудование контактного переноса изображений на подложки и для организации двусторонней литографии

Широкоформатные степперы

Оборудование для контроля полупроводниковых пластин

Оборудование подготовки кристаллов к сборке

Зондовый контроль

Утонение пластин

Резка пластин на кристаллы

Кассетирование кристаллов

Сборочное оборудование

Монтаж кристаллов
ЭМ-4105M
ЭМ-4685
ЭМ-4605
ЭМ-4505
ЭМ-4336
ЭМ-4025АМ3
ЭМ-4075А-1
ЭМ-4585
ЭМ-4505У

Монтаж выводов

Cварка пластин

Предзащита ИС

Оборудование лазерной обработки

Микроскопия, оптика

Микроэлектроника

Материаловедение

Биология

Медицинская техника

Кардиология

Установка монтажа кристаллов ЭМ-4075А-1


Установка посадки кристаллов ЭМ-4075-А1 предназначена для присоединения полупроводниковых кристаллов на клей при сборке интегральных схем и других изделий электронной техники методом вибрационной эвтектической пайки.
Установка ЭМ-4075-А1 настольного исполнения.

Конфигурация:
– головка присоединения кристаллов;
– рабочий стол для закрепления корпуса прибора;
– предметный столик с зеркальной подложкой, на который укладываются кристаллы россыпью;
– дозатор клея;
– микроскоп;
– световой визир для совмещения инструмента с кристаллом.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Размер присоединяемых кристаллов от 0,4х0,4 мм до 10х10 мм
Минимальная высота кристалла 0,1 мм
Амплитуда вибрации инструмента от 0.1 до 0.25 мм
Частота вибрации инструмента от 2 до 10 Гц
Диапазон регулирования усилия сжатия, Н 1-2.5
Возможность совмещения кристалла по углу f имеется*
Усилие сжатия регулируемое
Вакуум от 25 до 30 кПа
Электропитание и потребляемая мощность 230 В, 50/60 Гц, 0.5 КВт
Габаритные размеры 525х450х525 мм
Масса 25 кг

*- ручное совмещение рабочим столом по углу f при наблюдении под микроскопом и пантографом по осям x, y


English version
ПЛАНАР
Научно-производственный холдинг точного машиностроения «Планар»
Поиск по сайту
 
Выберите модель


Другие модели этого раздела.

© 2003 Планар
e-mail: planar_ovep@kbtem.by

www.redgraphic.com Дизайн и
программирование