Главная   Карта сайта   Контакт   Обратная связь   Полезные ссылки  
Об объединении Продукция Услуги Разработки Поддержка


Оборудование для формирования и контроля топологических структур на фотошаблонах

Прецизионные генераторы изображений

Генераторы изображений для специальных приложений

Фотоповторители

Установки автоматического контроля топологии фотошаблонов

Установки лазерного устранения дефектов фотошаблонов

Установки контроля микроразмеров и координат топологии фотошаблонов

Оборудование для формирования и контроля топологических структур на полупроводниковых пластинах

Оборудование для непосредственного генерирования изображений на полупроводниковые пластины

Оборудование для проекционного переноса изображений на полупроводниковые пластины

Оборудование контактного переноса изображений на подложки и для организации двусторонней литографии

Широкоформатные степперы

Оборудование для контроля полупроводниковых пластин

Оборудование подготовки кристаллов к сборке

Зондовый контроль
ЭМ-6070А
ЭМ-6520
ЭМ-6520-1
ЭМ-6190А
ЭМ-6290
УКФ

Утонение пластин

Резка пластин на кристаллы

Кассетирование кристаллов

Сборочное оборудование

Монтаж кристаллов

Монтаж выводов

Cварка пластин

Предзащита ИС

Оборудование лазерной обработки

Микроскопия, оптика

Микроэлектроника

Материаловедение

Биология

Медицинская техника

Кардиология

Зондовый контроль


ЭМ-6070А

Аналитическая субмикронная установка зондового контроля ЭМ-6070А предназначена для осуществления электрического контакта цепей измерителя с элементами топологии ИС и металлизированными шинами микронных и субмикронных размеров, для визуального наблюдения структур, а также для локализации отдельных элементов топологии во время диагностических исследований состояния внутренних блоков ИС в диапазоне нормальных и повышенных температур.

ЭМ-6520

Установка зондовая ЭМ-6520 предназначена для контактирования кристаллов ИС и СБИС на пластине диаметром до 200мм в диапазоне нормальных и повышенных температур и стыковки с измерительными комплексами контроля многовыводных СБИС.

ЭМ-6520-1

Полуавтоматическая установка зондовая ЭМ-6520-1 предназначена для финишного и межоперационного контроля ИС и СБИС на пластине диаметром до 200 мм.

ЭМ-6190A

Установка зондовая ЭМ-6190А предназначена для осуществления электрического контакта цепей измерителя с контактными площадками кристаллов интегральных микросхем на полупроводниковых пластинах.

ЭМ-6290

Автомат зондовый ЭМ-6290 нового поколения предназначен для обеспечения контактирования измерительных зондов с контактными площадками интегральных микросхем в автоматическом режиме.

УКФ

Предназначены для осуществления электрического контакта цепей измерителя с контактными площадками интегральных микросхем и полупроводниковых приборов на пластине в составе зондового оборудования.

Яндекс.Метрика
English version
ПЛАНАР
Научно-производственный холдинг точного машиностроения «Планар»
Поиск по сайту
 

© 2003 Планар
e-mail: planar_ovep@kbtem.by

www.rg.by Дизайн и
программирование