Главная   Карта сайта   Контакт   Обратная связь   Полезные ссылки  
Об объединении Продукция Услуги Разработки Поддержка


Оборудование для формирования и контроля топологических структур на фотошаблонах

Прецизионные генераторы изображений

Генераторы изображений для специальных приложений

Фотоповторители

Установки автоматического контроля топологии фотошаблонов

Установки лазерного устранения дефектов фотошаблонов

Установки контроля микроразмеров и координат топологии фотошаблонов

Оборудование для формирования и контроля топологических структур на полупроводниковых пластинах

Оборудование для непосредственного генерирования изображений на полупроводниковые пластины

Оборудование для проекционного переноса изображений на полупроводниковые пластины

Оборудование контактного переноса изображений на подложки и для организации двусторонней литографии

Широкоформатные степперы

Оборудование для контроля полупроводниковых пластин

Оборудование подготовки кристаллов к сборке

Зондовый контроль

Утонение пластин

Резка пластин на кристаллы

Кассетирование кристаллов

Сборочное оборудование

Монтаж кристаллов

Монтаж выводов

Cварка пластин

Предзащита ИС

Оборудование лазерной обработки

Микроскопия, оптика

Микроэлектроника
Микроскоп МИКРО200(Т)-01
Пост МК-1 на базе микроскопа МИКРО200(Т)-01
Комплекс автоматизированный МА 300
Сканирующий зондовый микроскоп СЗМ-200
Установка контроля МК-АМ

Материаловедение

Биология

Медицинская техника

Кардиология

Установка контроля МК-АМ

ГлавнаяПродукцияМикроскопия, оптикаМикроэлектроника › Установка контроля МК-АМ

Установка предназначена для визуального, с использованием микроскопа, контроля кристаллов микросхем с целью распознавания дефектных кристаллов на пластинах с последующей маркировкой их в автоматическом режиме

Основные технические характеристики
 Размер обрабатываемых пластин, мм 100; 150; 200
 Увеличение микроскопа, крат 100; 200; 500
 Предметный стол автоматизированный:  
 - ход стола по координатам X,Y, мм, не менее 283x204
 - погрешность перемещения, мм ±0.03
 - дискретность перемещения, мм 0.005
 - скорость перемещения, мм/с 0.5 ... 40
 Размер контролируемых дефектов, мкм, мин 0.8
 Смещение маркировочного пятна относительно центра кристалла, мм, не менее 0.2
 Потребляемая мощность, Вт 500
 Электропитание ~ 220В, 50Гц
 Габариты, мм 1300x1200x1400
 Масса, кг 150

English version
ПЛАНАР
Научно-производственный холдинг точного машиностроения «Планар»
Поиск по сайту
 
Выберите модель


Другие модели этого раздела.

© 2003 Планар
e-mail: planar_ovep@kbtem.by

www.redgraphic.com Дизайн и
программирование