 |
МК-3, МК-3Т - посты микроконтроля
Пост микроконтроля - инспекционный и измерительный комплекс на базе микроскопа МИ-1, предназначен для контроля и измерения структуры, состава и свойств металлов, сплавов при производстве в металлургии, входном контроле металлов в машиностроении. Заложенные в оптической схеме микроскопа широкие возможности позволяют использовать его в химической промышленности для оценки структуры различных химических материалов.
Пост микроконтроля МК-3 оснащен качественной оптикой высшего класса с увеличенным полем наблюдения. Для обеспечения реализации любых запросов “ПЛАНАР" предлагает к микроскопу большой выбор опций, поставляемых по отдельному заказу.
Применение 5-позиционной электромеханической револьверной головки позволяет рассматривать объекты без существенных потерь времени на поиск объекта при изменении увеличения (при смене объектива резкость остается практически неизменной, при этом наблюдаемый элемент остается в центре поля зрения). В соответствии с Вашими требованиями объекты можно исследовать в светлом и темном поле, реализован режим поляризационного контраста. Пост микроконтроля МК-3 позволяет осуществлять TV контроль и компьютерный анализ изображения.
Конструкция поста обладает высокой эргономичностью, позволяет регулировать глазную базу и осуществлять диоптрийную подстройку под зрение оператора в широком диапазоне. Смена увеличений осуществляется электромеханическим приводом. Предусмотрена возможность точного и грубого ускоренного перемещения предметного стола, удобного и легкого переключения режимов, что делает работу на микроскопе неутомительной даже в течение нескольких часов.
МЕТАЛЛОГРАФИЯ в комплекте с программным обеспечением (поставляется как опция к микроскопу) Вы можете осуществлять следующие технологические операции:
• измерение геометрических размеров;
• измерение площади и процентного количества включений;
• подсчет и измерение различных коэффициентов формы и распределения частиц;
• автоматизация измерений в зависимости от типа материала на изображении;
• специальные алгоритмы восстановления границ зерен для однофазных и многофазных материалов;
• вычисление относительной однородности материала с помощью функции Измерение однородности;
• возможность быстрого создания отчетов о результатах эксперимента на основе сохраненных шаблонов;
• отображение подробной статистической информации в виде таблиц и гистограмм;
• представление данных и форматирование изображений в стандартизованном формате.
Данные измерений для АSTM-стандартов представляются в формате, совместимом с промышленными стандартами.
Основные технические характеристики базовой модели микроскопа МИ-1
| Объективы (планапохроматы) |
5x |
10x |
20x |
50x |
100x |
| – числовая апертура |
0.15 |
0.30 |
0.45 |
0.80 |
0.90 |
| – рабочие отрезки объективов, мм |
5.60 |
2.25 |
1.25 |
0.55 |
0.32 |
| – разрешающая способность, лин/мм, не менее |
400 |
750 |
1200 |
1800 |
2400 |
| – увеличение видимое с окуляром 10x, крат: |
|
|
|
|
|
| – с тубусным объективом 1.0x, крат |
50 |
100 |
200 |
500 |
1000 |
| – с тубусным объективом 1.5x, крат |
75 |
150 |
400 |
750 |
1500 |
| – линейное поле зрения, мм, не менее |
|
|
|
|
|
| – с тубусным объективом 1.0x, крат |
3.90 |
1.90 |
0.90 |
0.38 |
0.18 |
| – с тубусным объективом 1.5x, крат |
2.60 |
1.27 |
0.60 |
0.25 |
0.15 |
| Револьверная головка |
пятипозиционная с электромеханическим приводом |
| Предметный стол |
поворотный с ручным управлением |
| Ход стола по координатам X,Y, мм, не менее |
25x25 |
| Поворот стола вокруг оси Z, град |
±15 |
| Величина фокусировки, мм, не менее |
7 |
| Чувствительность тонкой фокусировки, мм/оборот |
0.08 |
| Электропитание / Потребляемая мощность, Вт |
~ 230В, 50Гц / 200 |
| Габариты, мм (МИ-1/МИ-1Т) |
750x350x420/750x350x490 |
| Масса, кг (МИ-1/МИ-1Т) |
30/34 |
|
|
