Главная   Карта сайта   Контакт   Обратная связь   Полезные ссылки  
Об объединении Продукция Услуги Разработки Поддержка


Оборудование для формирования и контроля топологических структур на фотошаблонах

Прецизионные генераторы изображений

Лазерные генераторы изображения

Автоматический контроль фотошаблонов

Контроль фотошаблонов

Лазерное устранение дефектов на шаблонах

Фотоповторители

Оборудование для формирования и контроля топологических структур на полупроводниковых пластинах

Автоматические установки совмещения и экспонирования

Установки совмещения и экспонирования

Контроль полупроводниковых пластин и подложек

Генератор изображений на полупроводниковых пластинах

Широкоформатные степперы

Оборудование подготовки кристаллов к сборке

Зондовый контроль

Утонение пластин

Резка пластин на кристаллы

Кассетирование кристаллов

Сборочное оборудование

Монтаж кристаллов

Монтаж выводов

Cварка пластин

Предзащита ИС

Оборудование лазерной обработки

Микроскопия, оптика

Микроскопия
МИКРО200-01, МИКРО200Т-01
МИ-1
МИ-2
МК-1, МК-1Т - посты микроконтроля
МК-3, МК-3Т - посты микроконтроля
МК-АМ

Оптические компоненты

Медицинская техника

Кардиология

Реанимации и интенсивная терапия

Хирургия, травматология

Физиотерапия, неврология

Прессформы, координатные приводы, датчики

Прессформы

Линейные шаговые двигатели

Шаговые двигатели, преобразователи

Микроскопия


Микроскопы МИКРО200-01 , МИКРО200Т-01

Микроскопы предназначены для визуального контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов при производстве различных радиоэлектронных компонентов, а также для исследований в других областях науки и техники

МИ-1

Микроскоп инвертированный предназначен для использования в промышленности при металлографических исследованиях и в биологии для научных целей, а также в других областях науки и техники

МИ-2

Микроскопы инвертированные МИ-2 и МИ-2Т предназначены для решения широкого круга задач в различных областях науки, техники, образования.

Посты микроконтроля МК-1, МК-1Т

Пост микроконтроля - инспекционный и измерительный комплекс на базе микроскопа МИКРО200-01, предназначен для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов при производстве различных радиоэлектронных компонентов, а также для исследований в других областях науки и техники

Посты микроконтроля МК-3, МК-3Т

Пост микроконтроля - инспекционный и измерительный комплекс на базе микроскопа МИ-1, предназначен для контроля и измерения структуры, состава и свойств металлов, сплавов при производстве в металлургии, входном контроле металлов в машиностроении. Заложенные в оптической схеме микроскопа широкие возможности позволяют использовать его в химической промышленности для оценки структуры различных химических материалов

Установка визуального контроля и автоматической маркировки кристаллов на пластинах МК-АМ

Установка предназначена для визуального, с использованием микроскопа, контроля кристаллов микросхем с целью распознавания дефектных кристаллов на пластинах с последующей маркировкой их в автоматическом режиме

English version
ПЛАНАР
Открытое акционерное общество «Планар»
Поиск по сайту
 

© 2003 Планар
e-mail: planar@solo.by

www.rg.by Дизайн и
программирование