Главная   Карта сайта   Контакт   Обратная связь   Полезные ссылки  
Об объединении Продукция Услуги Разработки Поддержка


Оборудование для формирования и контроля топологических структур на фотошаблонах

Прецизионные генераторы изображений

Генераторы изображений для специальных приложений

Фотоповторители

Установки автоматического контроля топологии фотошаблонов

Установки лазерного устранения дефектов фотошаблонов

Установки контроля микроразмеров и координат топологии фотошаблонов

Оборудование для формирования и контроля топологических структур на полупроводниковых пластинах

Оборудование для непосредственного генерирования изображений на полупроводниковые пластины

Оборудование для проекционного переноса изображений на полупроводниковые пластины

Оборудование контактного переноса изображений на подложки и для организации двусторонней литографии

Широкоформатные степперы

Оборудование для контроля полупроводниковых пластин

Оборудование подготовки кристаллов к сборке

Зондовый контроль

Утонение пластин

Резка пластин на кристаллы

Кассетирование кристаллов

Сборочное оборудование

Монтаж кристаллов

Монтаж выводов

Cварка пластин

Предзащита ИС

Оборудование лазерной обработки

Микроскопия, оптика

Микроэлектроника
Микроскоп МИКРО200(Т)-01
Пост МК-1 на базе микроскопа МИКРО200(Т)-01
Комплекс автоматизированный МА 300
Сканирующий зондовый микроскоп СЗМ-200
Установка контроля МК-АМ

Материаловедение

Биология

Медицинская техника

Кардиология

Микроэлектроника

ГлавнаяПродукцияМикроскопия, оптика › Микроэлектроника

Микроскоп МИКРО200(Т)-01

Микроскопы предназначены для визуального контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов при производстве различных радиоэлектронных компонентов, а также для исследований в других областях науки и техники

Пост МК-1 на базе микроскопа МИКРО200Т-01

Пост микроконтроля - инспекционный и измерительный комплекс на базе микроскопа МИКРО200-01, предназначен для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов при производстве различных радиоэлектронных компонентов, а также для исследований в других областях науки и техники

Комплекс автоматизированный МА 300

Автоматизированный комплекс для контроля ИМС на полупроводниковых пластинах диаметром до 300 мм применяется в производстве изделия электронной техники для контроля элементов топологического рисунка в видимой и ультрафиолетовой (l = 365 нм) области спектра.

Сканирующий зондовый микроскоп СЗМ-200

Сканирующий зондовый микроскоп СЗМ-200 позволяет обеспечить контроль как обычных, так и критических наноразмерных элементов топологического рисунка ИС на пластинах до 200 мм.
Микроскоп сочетает возможности высокоразрешающего оптического и сканирующего зондового микроскопа, что  позволяет оперативно с помощью оптического микроскопа находить область, требующую контроля и затем проводить исследования с использованием контактного режима атомно-силового микроскопа.

Установка контроля МК-АМ

Установка контроля МК-АМ, предназначенная для визуального и автоматизированного контроля дефектов внешнего вида кристаллов на полупроводниковых пластинах с последующим формированием карты дефектов и возможностью маркировки в автоматическом режиме. В состав установки входит: микроскоп с автоматизированным столом, специализированное программное обеспечение, маркировщик.


English version
ПЛАНАР
Научно-производственный холдинг точного машиностроения «Планар»
Поиск по сайту
 

© 2003 Планар
e-mail: planar_ovep@kbtem.by

www.rg.by Дизайн и
программирование